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为了缩短液晶显示屏(LCD)的出厂的测试过程,提出了一种ARM+FPGA的混合控制系统,提升显示屏测试效率。系统通过引入FPGA,灵活设计出的基于薄膜晶体管(TFT)的LCD接口,系统采用Intel8080总线,ARM与FPGA进行显示图像数据的传输并显示到LCD上。实验结果表明,该系统比传统设计方法具有更高速缓存带宽9.35 Gb/s、ARM对FPGA程序重新编程具有灵活扩展、易用等特点,为工厂和研发人员对LCD的测试提供新的方案。