X射线荧光法测定高碳铬铁中的Cr、Si、P

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应用X射线荧光光谱法测定高碳铬铁中的Cr、Si、P等元素的含量.通过选择合适的制样条件,确定仪器最佳参数,建立工作曲线,对高碳铬铁合金进行测定.结果证明,本法快速、准确、灵敏度高,能满足生产需要.
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