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基于遗传算法，建立了片上系统芯片（SOC）的图模型，对逻辑级的SOC结构进行精确量化；然后，对模型应用遗传算法进行分析，得到了电路的理想分割结果；最后，基于分割结果，实现一颗SOC的可测试设计（DFT）．实验结果表明，在分割的均匀度与附加电路代价方面，该方法相比原有的DFT方法有显著的改进．
基于遗传算法的分割可测试设计
【摘 要】
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基于遗传算法，建立了片上系统芯片（SOC）的图模型，对逻辑级的SOC结构进行精确量化；然后，对模型应用遗传算法进行分析，得到了电路的理想分割结果；最后，基于分割结果，实现一颗SOC的可测试
【机 构】
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上海交通大学微电子学院
【出 处】
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上海交通大学学报
【发表日期】
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2007年11期
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