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在科学技术迅速发展的今天，人们不仅要求及时、精确、可靠地获得有关物质的成分与结构的定量数据，而且要求对物质的状态、价态、结构、微区与薄层等进行纵深分析，这对现代科学光谱分析仪器(原子吸收仪、分光光度计、直读光谱仪、电感耦合等离子体光谱仪等)提出了越来越高的要求。但是，光谱分析谱线干扰因素多，（以ICP为例，在200~1000nm波长范围内据统计有100余万条谱线，平均每0.1nm就分布有100余条，几乎每个元素的每条分析线均受到程度不同的谱线干扰），限制了光谱分析技术的进一步应用。