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提出了加强测试存取口（TAP）功能的一种方法，使之可以随两个时钟工作，一个用于控制与IEEE1149．1标准相兼容的操作；另一个控制器件所固有的可测试特性。这个方法给设计和利用器件的可测性特性带来了许多优越性。
IEEE1149．1测试存取口与器件可测性同步的实现
【摘 要】
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提出了加强测试存取口（TAP）功能的一种方法，使之可以随两个时钟工作，一个用于控制与IEEE1149．1标准相兼容的操作；另一个控制器件所固有的可测试特性。这个方法给设计和利用器件的可
【机 构】
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航天科技集团五院511所
【出 处】
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电子产品可靠性与环境试验
【发表日期】
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2002年1期
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