FPGA内部资源测试探讨

来源 :电子产品可靠性与环境试验 | 被引量 : 0次 | 上传用户：a753159456

【摘要】

：

FPGA功能的稳定与可靠对于其应用至关重要.根据FPGA内部结构特点将其分为可配置逻辑模块、输入输出单元、内部互连线路、块RAM、DSP和时钟管理单元,以及其他特殊的功能模块,阐述了主要的FP-GA测试方法并进行简要的比较.通过分析FPGA的典型故障,比如固定型故障、短路故障、开路故障、暂态故障和延迟故障等,归纳了各个模块对应的测试方法,以期能够帮助简化FPGA测试工作,提高FPGA测试效率.

【作者】

：

贺云肖梦燕唐锐

【机构】

：

工业和信息化部电子第五研究所,广东广州 511370

【出处】

：

电子产品可靠性与环境试验

【发表日期】

：

2022年1期

【关键词】

：

可编程逻辑阵列内部结构故障类型测试方法

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