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该文首先介绍了反熔丝FPGA(Field-Programmable Gate Array,现场可编程逻辑门阵列)的典型结构,分析了传统反熔丝FPGA测试面临的难点,提出了一种基于ATE(Automatic Test Equipment,自动化测试设备)的反熔丝FPGA的测试方法。测试结果表明,该测试方法可以有效地解决反熔丝FPGA的测试难题。