基于统计检验的光电耦合器寿命预测模型研究

来源 :电子元件与材料 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zjbme2010
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基于统计学思想,提出了寿命预测过程的逆向检验方法,通过Shapiro-Wilk检验验证试验数据的分布特性,通过方差齐性分析检验实验过程老化机理一致性,通过显著性检验对回归方程的显著性进行检验。文章将该方法应用于光电耦合器的寿命预测过程,通过提出的逆向检验方法验证后,所得预测结果与生产厂家提供的参考寿命接近。实验结果表明该方法能够有效地检验试验数据和评估模型的适用性,进一步提高光耦寿命预测的准确性,同时该方法对其他器件的寿命预测也具有一定的借鉴价值。
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