论文部分内容阅读
X射线荧光分析中,由于物质成分变化对检测结果的影响,在多数情况下元素浓度含量和荧光强度间不是线性对应关系。针对0~100%浓度的Fe和基体为Cr(强吸收体)和O(弱吸收体)的二元混合物样品,使用MCNP程序模拟强吸收和弱吸收时Fe的荧光强度和Fe的浓度的对应关系。理论表明该对应关系为由参数p确定的曲线,p值由基体元素和待测元素对射线的吸收系数确定。MCNP计算结果和理论公式一致,应用MCNP程序可以计算荧光分析基体效应的校正曲线。