针对航空、航天、船舶等制造领域大构件形貌测量的大量程、高数据密度、高效率、结构复杂等特点, 研究了一种融合光电扫描全局定位和终端形貌测量技术的大构件高分辨率几何形貌整体测量方法。通过条纹投影摄影测量系统在构件局部表面投射相位条纹, 获取高精度稠密点云, 设计了位姿测量算法, 解决了复杂现场不满足交会条件时无法实现位姿测量的问题, 在室内空间测量定位系统(workshop Measurement Positioning System, wMPS)组建的全局测量网络体系中, 对条纹投影摄影测量系统进行全局定位。从而在不依赖软件拼接算法的情况下, 通过数据融合完成了大构件整体形貌测量。实验结果表明: 该系统的点云密度为50点/mm2, 整体测量精度可达0.22 mm。