【目的】阐明水稻受稻纵卷叶螟危害后不同受害程度的叶片、卷叶的分布形式及卷叶率对稻叶光谱特征的影响,获取诊断水稻受害程度的模型,以便为稻纵卷叶螟的遥感监测提供理论指标与方法。【方法】试验以不同受害等级的虫害叶及健康叶为材料,在室内恒定条件下采用ASD光谱仪分别测定不同受害程度、受害叶片的不同分布形式、及不同卷叶率下稻叶的光谱反射率,并采用直线回归法,建立基于光谱参数的水稻受害程度诊断模型。【结果】水稻虫害叶光谱反射率均随受害等级的增加,在绿光区(530—570nm)和近红外区(700—1050nm)降低,而在红光区(610—700nm)增加。能反演叶片受害程度的敏感波段为530—564nm、614—695nm和706—1050nm。建立了5个反演叶片受害程度的模型,诊断准确率在80%—90%之间,并且以741nm处的反射率对叶片受害程度的诊断效果最好。在卷叶率恒定的条件下,卷叶的分布位置对光谱反射率影响较小;而卷叶率对光谱反射率的影响较大,表现为随卷叶率的增大,450—500nm和610—700nm处的反射率增大,530—570nm和700—1050nm处反射率降低。差值植被指数(Rnir-Rred)、黄边面积(SDy)及红边面积与蓝边面积的差值(SDr-SDb)等指标均能将6个不同等级的卷叶率(0、10%、30%、50%、70%和90%)区分开,并且利用黄边面积(SDy)指标诊断卷叶率的准确率达86%。【结论】水稻受稻纵卷叶螟为害后,在叶片光谱反射率上有明显的表现,可以利用光谱特征来监测稻叶的受害程度及卷叶率大小。