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为了同时解决目前SOC测试工作中面临的测试数据量、测试功耗、测试时间三方面的难题，提出一种基于random access scan架构的SOC测试方法．该方法通过改进扫描单元的结构，减少了硬件开销，同时利用列地址信号来控制测试过程，减少测试数据量和测试时间．在ISCAS’89基准电路上进行的实验表明，该方法与传统的串行扫描技术相比，平均数据压缩率可以达到559／6，测试速度提升2倍以上，同时，其测试的平均功耗几乎可以忽略不计．