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用ＥＨＭＡＣＣ方法计算了酞菁铜本征态和碘掺杂态的能带结构。为验证模型的合理性，用载流子迁移Ｆｒｈｌｉｃｈ－Ｓｅｗｅｌ公式，对理论电导率和实测电导率进行了比较。结果表明：理论电导率和实测电导率基本吻合，支持了所提出的模型的合理性。初步探讨了碘计量掺杂和非计量掺杂时对电导率的影响。计量掺杂碘时，电子和空穴的浓度相同，迁移率影响导电性；非计量掺杂碘时，空穴浓度大于电子浓度，载流子浓度和迁移率同时影响导电率。载流子在迁移过程中，既包括能带机理，又包括跳越机理。