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建立了高纯二氧化锗中痕量杂质Mg、Al、Ni、Cu、Zn、In、Pb的ICP-MS测定方法。选择了仪器最佳工作条件，研究了锗基体对被测元素的干扰，方法回收率为94％～114％，RSD为11．1％～57％。
高纯二氧化锗中痕量杂质的ICP-MS法测定
【摘 要】
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建立了高纯二氧化锗中痕量杂质Mg、Al、Ni、Cu、Zn、In、Pb的ICP-MS测定方法。选择了仪器最佳工作条件，研究了锗基体对被测元素的干扰，方法回收率为94％～114％，RSD为11．1％～57％。
【机 构】
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北京有色金属研究总院分析测试技术研究所
【出 处】
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分析试验室
【发表日期】
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2006年7期
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