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为了更好地评价大口径反射镜反射面面形，本文首先通过理论计算，得出了二阶矩过程的数字特征与结构函数（SF）、表面均方根（RMS）、斜率均方根（SlopeRMS）之间的关系，得出以上3种常见的评价函数，皆为二阶矩过程数字特征的组合，以及后面两种评价函数都可以用结构函数表示的结论。然后对于结构函数的具体求解方法进行了讨论并对Zerni-ke多项式中的彗差、像散项的结构函数进行了分析；之后利用离散随机变量功率谱分析，讨论了二阶矩过程评价方法对于噪声的敏感程度以及Zernike多项式频谱能量分布；最后基于二阶矩过程