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提出了增加系统芯片观测性的一种新颖实现方法,即增加一个总线分析模块以实现对芯片的系统级监控.该总线分析模块由采样、存储、调试以及上位机接口单元组成.用户通过上位机软件可以方便地设置指令的采样点,选择自己需要的总线采样信号,对采样结果进行查询等.总线分析模块通过存储单元实现了对多次采样结果的存储.