【摘 要】
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利用野外测量21种地表岩石的高光谱发射率数据,进行包络线去除和归一化处理后,运用逐步回归法进行波段选择,分析了SiO2含量与包络线去除后特征波段发射率的定量关系。在此基
【机 构】
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中国科学院遥感应用研究所,中国科学院研究生院,中国冶金地质总局矿产资源研究院
【基金项目】
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国家（863计划）项目（2008AA121103,2008AA121102）, 国家自然科学基金项目（41072248）资助
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利用野外测量21种地表岩石的高光谱发射率数据,进行包络线去除和归一化处理后,运用逐步回归法进行波段选择,分析了SiO2含量与包络线去除后特征波段发射率的定量关系。在此基础上,通过比较12种SiO2光谱指数,建立了定量反演SiO2含量的最优模型。结果表明：构建的SiO2光谱指数能有效预测SiO2含量,其中基于11.18和12.36μm波段的归一化SiO2光谱指数（normalization silicon dioxide index,NSDI）的预测能力最高;与回归模型相比,光谱指数更简单、实用;研究结果在
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