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针对传统依靠人工使用示波器、万用表、逻辑分析仪等设备对数字电路板进行测试具有过程复杂、工作量大、可靠性低等缺点，介绍一套通用数字电路板测试系统的硬件设计方案。跟传统数字电路板测试系统相比，文中的设计性能参数更优，主要包括：测试频率最高50MHz并可调为100MHz的整数分频；测试电平兼容-6～＋9V且可编程步长为100mV；测试通道32路，每通道可设为输入输出三态可选且同步工作，存储深度1Mbit，电流驱动能力达50mA并有过载保护。