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本文分析了6例副腮腺肿瘤与1例正常副腮腺的腮腺造影表现.指出正常副腮腺的形态和解剖部位.由此提高了对副腮腺肿瘤的诊断.副腮腺肿瘤 X 线特征:(1)发生在鼻翼至耳屏部联线中1/3处.(2)腺泡内充盈缺损.(3)副腮腺肿瘤对分支导管拉直、移位、支导管远端呈残根样改变和走行异常.(4)肿块大于1cm.作者认为腮腺造影对诊断副腮腺肿瘤与正常副腮腺有不可忽视的价值.