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发现高精度荧光测温时,荧光寿命与荧光强度有关,表现为激励光源强度、光传输效率、通道放大倍数等影响测量结果,原因在于荧光余辉不是准确的指数变化,它可能导致以荧光余辉指数变化为前提推导的结论要重新考虑其适用范围。论证了实际荧光余辉偏离指数的程度与光谱形状的关系。提出了余辉曲线截断归一化法,用来比较不同材料的余辉偏离指数程度的大小。指出多指数拟合法可以减少非指数分量对测量的影响,给出了数值示例。