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阐述了系统芯片(SoC)测试相比传统IC测试的困难,SoC可测性设计与测试结构模型,包括测试存取配置、芯核外测试层,以及测试激励源与......
微电子技术的迅速发展促进了系统芯片(SOC)的出现,并由此将集成电路带入了一个新的发展时期。由于SOC采用的是以复用IP芯核为主的......
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