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半导体器件的长期贮存失效机理及加速模型
加速应力试验是评价长期贮存一次性使用半导体器件贮存可靠性的最重要途径之一。针对半导体器件不同的失效机理,选择合理、准确的......
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半导体器件
长期贮存
失效机理
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