可靠性物理相关论文
１１５ 微处理器可靠性性能与０．２５ μｍ五层金属ＣＭＯＳ逻辑过程的芯片位置的关系（Ｍｉｃｒｏｐｒｏｃｅｓｓｏｒ Ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ Ｐｅｒｆｏｒｍａｎｃｅ ａｓ ａ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ ｏｆ Ｄｉｅ Ｌｏｃａｔｉｏｎ ｆｏｒ ａ ０．２５ μｍ Ｆｉ
115 Microprocessor Reliability P......
47.铜金属化中时间相关介质击穿的物理模型(APhysical Model of Time-Dependent Dielectric Break-down in Copper Metallization......
073 980 nm SL SQW InGaAs激光二极管线缺陷引起突然失效的基于READ的运动学(READ- Based Kinetics for Line Defects Leading to ......
248关状态偏压温度应力下带-缺陷隧道引起的高密度DRAM单元晶体管结漏电流的可靠性退化(Reliability Degradation of High Densit......
现在人们会不时地在一些文献资料中看到故障物理/可靠性物理的论述,这些文献资料都将现在流行的可靠性技术称之为传统的可靠性技术......
以失效物理为核心的产品可靠性设计已成为行业内所广泛认可的可靠性工程方法,在产品的研发早期的各重要环节利用可靠性仿真技术来......
对工艺过程进行评估的目的在于找出存在可靠性缺陷的地方,它是针对技术磨损的机理,通过对专门设计的测试结构进行封装级或圆片级可......
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对研制生产、使用中元器件失效的原因和机理进行研究分析，提出改进措施，不断提高元器件可靠性是元器件可靠性科研和技术服务的任务所......
综述了第一性原理计算在可靠性物理中尤其是在新电子材料和纳米器件失效机理研究中的应用,重点阐述了第一性原理计算在对电子材料......
对故障物理及可靠性物理技术进行了论述,介绍了故障物理及可靠性物理的内涵、目标及其理论基础和分析技术。在此基础上,根据国内外......
