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半导体的检测与分析是一个介于基础研究与应用研究之间的领域,涉及内容广泛。随着半导体科学技术的快速发展,半导体材料测试与分析......
近年来,由于碳化硅(SiC)双极器件在超高压(>5000 V)应用领域优越的性能,SiC PiN二极管、双极结晶体管(BJTs)和绝缘栅双极型晶体管(IGBTs)等......
本文主要从理论上和实验上研究了硅材料、工艺与太阳电池少子寿命的关系.采用微波光电导衰减法对材料的少子寿命进行分析、测量.当......
为了更好地了解P型4H-SiC的电学特性,评价其晶体质量,利用激光和微波技术作为非接触、非破坏性测量半导体特性的一种工具,详细描述......