栅极氧化物相关硕士博士期刊学术论文 - 信丰网

栅极氧化物相关论文

用XPS法精确测量硅片上超薄氧化硅的厚度

简单介绍了硅片表面超薄(0.3～8nm)氧化硅厚度的XPS测量方法。方法根据XPS测得的元素硅和氧化硅的Si2p谱线强度,使用较简单的厚度分......

期刊

栅极氧化物氧化硅厚度测量衰减长度 X射线光电子能谱

现代功率半导体器件的失效机制及失效根本原因的确认

<正>简介功率器件在当今世界发挥着至关重要的作用。从发电(例如,光伏电站)到通过不间断电源的电池储能,直至最后的负载点的电力价......

期刊

功率半导体器件栅极电阻反向恢复电流电子-空穴等离子体失效机制电压过冲栅极氧化物根本原因

看过本文同时还关注