瞬时电离辐射相关论文
介绍了瞬时电离辐射环境中SRAM型FPGA配置存储器测试的实现方法,提出了将辐射回避应用于FPGA瞬时电离辐射效应测试的方法,设计了可......
利用正交设计法设计了实验方案,可通过较少的实验获得满意的实验结果。在＂强光一号＂上对BiMOS工艺运算放大器CA3140进行了瞬时电离辐......
利用CMOS工艺微控制器的实验测试系统,在＂强光一号＂加速器上进行了瞬时剂量率效应实验。实验研究采用的γ脉冲宽度为20ns,剂量率（以Si......
定性分析了SRAM型FPGA瞬时电离辐射功能错误,认为功能错误阈值与敏感配置位数无关。设计了两种敏感配置位数相差悬殊的由查找表和D......
针对瞬时电离辐射效应考核中应用经典非参数法存在信息利用率低,评价结果过于保守的问题,本文在识别出瞬时电离辐射效应数据在统计......
