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硅通孔(TSV相关论文
含TSV结构晶圆在减薄中的表面损伤研究
在芯片制造工艺中,随着线宽技术降到32 nm以下,相应的工艺技术已经快接近物理极限,难以在单一芯片上集成更高密度的电路和更多的功......
学位
硅通孔(TSV
Through Silicon Via)
背面减薄
材料去除
亚表面损伤
分子动力学
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