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背散射电子衍射检相关论文

取向硅钢晶粒取向的不均匀分布及其检测

利用X射线衍射和背散射电子衍射检测了取向硅钢板表层和中心部位的宏观织构和微观晶粒取向分布,观察了相应的晶粒组织.结果表明,二......

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取向硅钢晶粒组织织构检测不均匀性 X射线衍射背散射电子衍射检 oriented Si steel grain structure texture t

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