谱线重叠校正相关论文
采用试样粉末直接压片，基体效应用仪器软件方法校正，谱线重叠干扰以本文提出的“干扰增量法”测量与计算出重叠校正系数K，输入仪器自......
【摘要】采用硼酸镶边垫底的粉末样品压片制样，用Bruker-axs公司的S4 Pioneer X射线荧光光谱仪对多煤田勘探样品中Al2O3、CaO、Fe2O......
X射线荧光光谱仪的问世给铁、镍、铝、钛、镁和铜等合金的成分分析提供了有力的工具,它快速、准确,尤其是在准确性和高含量分析方......
对铸铁的X射线荧光光谱分析方法进行系统的研究,包含C、Mg、Al、Si、Mn、P、S、V、Ti、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、As、Se、Zr、Nb、Mo、......
采用X射线荧光光谱分析钛合金时,由于共存元素之间存在严重谱线干扰和基体效应,使元素含量与谱线强度之间相关性差,影响测定结果的......
采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对多目标地球化学调查样品中Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O......
采用粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对化探样品中氯、溴、硫、氧化钠、氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、磷、氧化钾、氧......
