边界扫描测试相关论文
信息技术与半导体工艺的日益发展,在提高装备性能的同时也使其自身复杂性不断增加。为保证装备维修性、可靠性、可用性以及战备完......
该课题是对"八五"期间研制的受控器设计和测试系统进行改进,使之具有更强的实用性.论文中在研究边界扫描测试标准对体系结构中受控......
该文内容即为研究一种混合信号电路的可测试性设计方法.该论文基于两个JTAG边界扫描测试体系标准,并将数字电路JTAG体系标准IEE114......
如今的数字电子系统，大量地采用了诸如PGA、BGA、SMT、MCM等高度封装器件，使得PCB上各器件之间的连线间距越来越细密。同时，数字系统......
边界扫描测试技术是一种可测性设计技术，可用于实现芯片级、板级甚至系统级的电路测试和故障诊断。随着集成电路设计和制造工艺的不......
随着电子技术的迅速发展,数字电路广泛应用于通讯、导航、计算机,仪器仪表之中,其结构的复杂度和集成度的也日益提高,传统的测试方......
文章介绍了边界扫描测试的原理 ,分析了联合测试行动组JTAG控制器的逻辑状态 ,并给出了JTAG测试具体应用的VHDL原代码和逻辑仿真波......
专用集成电路(ASIC)的测试需要设计一个专用测试集，测试过程复杂且成本高。而采用边界扫描测试技术设计ASIC，其测试过程简便快捷，不需......
边界扫描是一种正在被人们普遍接受的可测试性设计技术,在电子设备测试和故障诊断中发挥着越来越重要的作用.本文介绍了开发的边界......
高清晰度电视（HDTV）信道接收芯片（8VSB）的测试策略主要包括全速全扫描的内部测试，片载内存的自检测（BIST）以及IEEE1149．1边界扫描测试，该芯......
本文介绍了边界扫描技术及其IEEE 1149.1标准.包括它的基本原理、硬件和测试策略,以期引起同行对BST这一在国内尚属发展阶段的技术......
边界扫描技术是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法.但是在扫描链路的设计中如何将不同厂家、不同型号、不同工作电压的BS器......
互连测试是边界扫描技术的主要内容之一,在分析IEEE1149.1的基础上,给出一种基于嵌入式开源数据库SQLite的边界扫描测试系统中互连......
针对模拟电压监测的技术现状,提出以支持IEEE1149.1接口标准的模拟电压监测器进行电压监测电路设计;简要介绍了模拟电压监测器的基......
将边界扫描技术与网络技术结合，解决高密度电路系统特别是混合信号电路及复杂测试环境带来的测试问题，可实现远程测试与故障诊断；设计......
静态随机存储器（SRAM）应用广泛，必须充分测试以保证其高可靠性；应用边界扫描的虚拟探针技术实现SRAM测试，分析SRAM功能结构并建立测试模......
针对边界扫描中的测试生成问题,研究了一种SVF文件解析器;通过解析SVF文件,生成符合JTAG时序的测试信号,包括TCK、TMS、TDI以及预......
分析了用边界扫描测试结构实现芯片功能级测试的方法，提出了一种基于逻辑电路的仿真波形生成电路功能级边界扫描测试代码的方法．利用......
根据弹性分组环专用集成电路的具体情况，提出了相应的可测性设计（Design for Testability，DFT）方案，综合运用了三种DFT技术：扫描链、边界......
以MPEG-2解码芯片为研究对象，采用基于模块划分方法进行可测性设计，包括边界扫描（JTAG）和内建自测试（BIST）。根据MPEG-2系统结构的特点，把......
根据对空指挥镜的结构特点,应用边界扫描测试、数字电路在线测试、节点电压测试等多种测试方法,全面检测了对空指挥镜的光学性能、......
基于IP的SoC设计能够有效提高设计效率,降低成本,是当前超大规模集成电路设计的主流解决方案。SerDes作为一种复杂数模混合IP,可实......
为有效检测电路板焊接质量与器件质量,实现高精度的故障定位,提出了基于边界扫描技术与功能测试技术的解决方案。在显示产品设计中......
介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法。针对IC芯片某种特定......
在分析ＶＬＳＩ可测试性设计技术的发展情况和设计准则的基础上，讨论了研究与发展ＩＥＥＥ１１４９．１可测试性设计技术的重要意义，以及该技术在我国民用和军用工......
基于IEEE 1149.1标准制定的边界扫描技术能够对复杂电路进行测试,并诊断出硬件问题。首先介绍了边界扫描测试电路的基本结构,针对......
本文介绍了一款基于65nm工艺的数字处理芯片的可测性设计，采用了边界扫描测试，存储器内建自测试和内部扫描测试技术。这些测试技术的......
给出了CPU芯片硬件验证调试平台的一种具体设计方案.该验证调试平台在设计方法上采用了程序性在线测试方法.该平台构建了CPU芯片的......
简要介绍了混合信号测试总线IEEE1149 4标准和KLIC混合信号总线测试用的实验芯片。使用本研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对......
在边界扫描测试系统中，JTAG主控器是一关键部分。本文设计的PCI-1149．1边界扫描主控器利用计算机的PCI总线实现对JTAG总线的控制，不仅......
针对复杂电子装备数字系统测试与故障诊断的需求，提出了基于模块测试与维护（MTM）总线的系统级测试性设计方案。在该测试性设计方案中，M......
分析了边界扫描测试技术的工作机制对测试主控系统的功能需求,提出了一种基于微机PCI总线的低成本边界扫描测试主控系统的硬件设计......
边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上器件的功能、互连等进行测试的新途径.本设计实现了一种能......
随着信息技术和半导体工艺的发展与进步,装备中集成电路的占比越来越高。为了保证装备的可靠性及安全性,可测性设计成为电路设计中......
模块测试与维护总线（MTM-Bus）给层次化边界扫描测试技术提供了方便。本文简要介绍了MTM—Bus原理及应用，论述了系统级边界扫描测试系......
介绍了边界扫描测试(BST)的基本组成,以及采用BST技术实现印制电路板测试.BST技术遵循IEEE1149.1标准,它不需要占用太多的硬件资源......
文章介绍了集成电路系统芯片(So C)以及IP核相关理论知识,对DFT集成电路可测试性设计进行了概述,给出了几种常用IC产品的测试方法,......
边界扫描技术是标准化的可测试性设计技术，它提供了埘电路板上器件的功能、互连及相互问影响进行测试的一类方法，极大地方便了对于复......
FPGA（Field Programmable Gate Array）由于其高性能、可编程等特性,用户可以根据自己的需要,更改FPGA中的配置信息,实现设计的功能。......
边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连等进行测试的一种统一方案,极大地提高了......
“魂芯一号”（BWDSP100）芯片是一款性能优越的高端 DSP处理器，适用于雷达信号处理、电子对抗、精确制导武器、通信保障等领域。针对基......
细间距QFP的焊接技术发展到今天，遇到了一些新问题，如当无铅QFP和有铅焊料混装时，如何解决兼容性的问题，如何去除细间距QFP引脚上的氧......
机载电子设备可测试性设计已成为飞机设计的重要组成部分,可提高电子设备的可用性及飞机的综合效能。本文结合机内测试、自动测试......
针对电路板边界扫描测试中簇测试时间较长、测试效率较低问题,以并行测试思想为基础,提出了一种簇测试置入方案--交迭置入方案,并......
