边缘扫描测试相关论文
随着深亚微米集成电路技术的发展，已经可以将大多数甚至所有的系统功能封装在单个芯片上。与此同时，越来越高的芯片集成度和印制板组......
简单论述了边缘扫描测试技术,详述了研制的网络化边缘扫描测试系统的构建方法。针对测试系统的实际应用进行了说明。......
大规模集成和超大规模集成电路迅速发展，使芯片的集成度越来越高，而供外部测试的引脚却很少，测试问题日趋困难，甚至使芯片测试比芯片本......
