BIST电路相关论文
基于March CE算法,设计了一种可嵌入式的具有内建自测试功能的电路;在电路和测试方案设计中依据March CE算法中理论公式,并以此为......
基于March C＋算法,设计了一种基于Scan chain的Block RAM为测试对象的串/并行BIST电路。在电路内部自身生成测试向量,不需要外部施......
