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CCD阵列探测相关论文
硅与二氧化硅复合薄膜的椭圆偏振光谱分析和研究
现代椭圆偏振光谱测量作为一种非接触、非破坏性测量的方法广泛应用于工业生产和科学研究,它是研究光频电磁波在两媒质问界面或薄膜......
学位
磁控溅射
椭圆偏振术
CCD阵列探测
硅
二氧化硅
复合薄膜
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