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通过对X射线转换屏制备过程中, Tl+掺杂浓度、基底刻蚀、晶柱生长过程和防潮解等方面的大量实验研究,得到最佳掺杂浓度(摩尔比为0.055%)......
在建立模型的基础上,较为全面地分析了CsI:Na(CsI:Tl)X转换屏的荧光透过率及对X射线的转换因子,明确了转换因子与X光子能量、转换屏厚......