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系统由元件组成，因此元件的可靠性必然直接决定系统的可靠性。在对系统进行可靠性试验时，通常要收集系统寿命和系统失效原因这两项数据，来对系统的可靠性进行分析。然而在实际的试验过程中，往往由于设备或记录等客观因素，可能无法确切地观测到系统失效的原因，即造成系统失效的元件不能确定，而只能得到系统寿命数据和可能造成系统失效的元件的集合，这类试验数据称为屏蔽数据。 另外，也可能受试验成本等客观因素的限制，只能有少量的样本参与试验，这时由于样本信息较少，通常采用Bayes方法进行分析。目前利用Bayes方法对一般的由最小路径描述的复杂系统可靠性进行的研究分析并不多见。 本文基于屏蔽数据，在假定元件寿命服从几何分布的情况下，利用极大似然方法与Bayes方法，对由最小路径描述且元件相互独立的一般复杂系统的可靠性进行了研究。得到如下结果： 1.基于屏蔽数据，针对由最小路径描述的一般复杂系统，在元件相互独立且服从几何分布的假定下，给出了元件参数的极大似然估计，进而得到元件可靠度的估计，以及平方损失下系统可靠度的估计。 2.在逐步增加II型截尾样本下，结合一般复杂系统在元件寿命服从相同及不同参数几何分布下的可靠度表达式，利用Bayes方法，得到平方损失下系统的可靠度Bayes估计及EB估计。