IC测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备,是伴随着集成电路一起发展的分支产业。近年来,集成电路技术朝着高集成度、高性能、高稳定性的方向发展,为了满足集成电路测试需求,IC测试仪的功能和性能也在不断提升。数据传输作为测试过程中的重要一环,直接决定IC测试仪功能能否正确执行,契合的数据传输方案对于提升系统的性能具有重要意义。对于数据传输而言,传输速度以及可靠性是需要解决的重要问题。本文基于集成电路综合测试仪开发与应用项目,阐述了一种数字通道板数据传输设计方案和硬件电路具体实现,在此基础上设计相应的FPGA数据传输逻辑,实现系统数据快速可靠传输。本文主要工作如下:1.根据测试仪系统的整体方案和数据传输需求,分析了三种数字通道板与系统的控制模块的连接方案(PCIe总线互连方案,自定义总线方案以及RapidIO总线方案),最终确定控制模块和数字通道板采用SRIO(串行RapidIO)总线进行互连。2.数字通道板数据传输方案设计与硬件实现。根据数字通道板数据传输需求设计基于SRIO总线的数字通道板数据传输方案,同时阐述了数字通道板数据传输接口电路、时钟电路以及电源电路的硬件实现。3.数字通道板数据传输逻辑设计与实现。根据数据传输方案设计并实现数字通道板的FPGA数据传输逻辑,包括SRIO总线控制器、数据流控制器以及自定义总线控制器。4.对IC测试仪数据传输进行测试:完成数据传输硬件调试并搭建测试平台,在此基础上进行数据传输逻辑测试,包括数据的读写测试,数据传输可靠性测试以及数据传输速度测试。测试结果表明设计的数据传输方案可以实现100Mbps的有效传输速度指标要求,并且运行稳定。