随着集成电路行业的迅速发展,片间数据传输速率成为制约芯片性能的主要因素,高速数据传输接口引起了广泛的研究兴趣。串行解串器(SerDes)是一种高速通信的串行接口器件,被应用到许多航空航天设备中。在空天辐照环境里,保证数据的正确传输十分重要,研究SerDes的辐照特性和加固具有重要意义。为满足上述需求,本论文基于40nm CMOS工艺展开对高性能、抗SET的SerDes接收端均衡和采样模块的研究,重点关注均衡模块、采样模块和模拟前端模块的SET效应敏感性分析以及加固技术。首先,从传输线模型的角度分析传输线的非理想特性,研究非理想特性造成传输损耗的原因以及对信号完整性的影响。分析空天辐射环境中的辐射效应种类,各类辐射效应的特点,分析辐射效应对SerDes电路造成的影响。其次,本文实现均衡模块和采样模块的电路,设计了失调补偿模块、模拟前端模块,对各个模块规划潜在敏感点,并进行单粒子瞬态效应的仿真分析。针对不同的电路提出不同的仿真方法,如按控制信号的不同,对不同控制信号下的敏感节点进行仿真分析,对对称电路可以进行单边电路的仿真分析,对于采样电路则要对单粒子轰击发生的时间进行扫描分析。最后,针对仿真分析结果,对采样模块进行抗辐照加固,对加固后的数模混合电路进行版图实现。在加固的版图设计中,版图输出眼图符合要求,电路驱动和延时要求都得到了满足。基于40nm CMOS的高速均衡、采样模块的SET敏感性仿真与分析的结果显示,均衡模块由于其本身特殊的功能特性使得电路本身对SET并不敏感;而模拟前端以及失调补偿模块由于其电路结构简单、本身电流大小等原因,使得电路具有抗SET的特性;但是采样模块的电路是对SET敏感的。由于只有采样模块是需要加固的,所以本文利用三模冗余的方法对采样模块进行加固,对加固后电路进行版图实现并提取寄生参数进行仿真,发现完全能够保证电路功能,均衡模块输出信号眼宽保持在0.8UI,传输速率6.25Gbps,采样器采样数据正确,单个模块版图面积增加,但整体版图面积并没有增加。