现场可编程门阵列(FPGA)以其设计周期短、可重复编程、低成本、操作灵活等优点,而广泛应用于当前众多空间电子系统中。然而,随着集成电路进入纳米尺度,由空间辐射而导致FPGA发生单粒子翻转效应(SEU)的风险愈加严重,进而影响FPGA内部存储单元存储信息的有效性,引起电子系统故障。因此,开展FPGA中SEU效应的探测研究具有重要的实际价值。本论文基于FPGA开发板研究并实现了一款SEU探测系统,可用于FPGA电路中触发器单元SEU效应的探测和评估。该探测系统由测试向量生成模块、测试结果分析模块、同步控制模块以及测试结果上传模块四个部分组成。其中,测试向量生成模块可为插入扫描链的待测FPGA电路提供测试向量;测试结果分析模块接收来自待测FPGA单元的响应,并在FPGA探测系统内部进行逻辑判断,判断测试响应是否与期望响应相同,从而判断待测FPGA是否发生了SEU效应,并统计出错的触发器数目;同步控制模块用于实现FPGA探测系统、待测FPGA电路以及SEU故障注入设备三者之间的协议握手。测试结果上传模块统用于计发生SEU的触发器数目,并通过串口RS232将出错的触发器个数上传至上位机。通过上述四个模块的联合作用,从而实现待测FPGA电路中SEU效应的探测。利用本论文所研制的SEU探测系统,重点开展了重离子辐照实验后基于FPGA的ISCAS’89基准电路中SEU效应的探测和评估,实验结果表明,所研制探测系统可准确探测待测电路中触发器单元是否发生SEU效应,且可统计发生SEU的触发器数目,完全适用于目标FPGA电路中SEU效应的实际探测需求。