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该论文根据目前国内外现状,针对颗粒显微图象分析的关键点和难点,研究出了利用统计模式识别技术进行真彩色分割的方法,使分割的准确性得到了很大的提高,解决了颗粒显像图象中可能存在的光照不均匀的问题;利用计算机图形学和数字图像处理技术,提出了颗粒的自动识别的方法--轮廓跟踪以及轮廓填充,应用该方法,大大提高了颗粒识别的自动化程度.