现代社会,集成电路是信息产业和高新技术的核心,是推动国民经济和社会信息化的关键技术之一。集成电路的设计和工艺制造产业的飞速发展也为集成电路的测试提出了更高的要求。对于新产品来说,如何缩短产品从生产到投入市场的时间是至关重要的。因为时间直接决定产品的销售时机,影响其销售量。在产品生产初期就制定一套高效的测试解决方案,可以避免在测试程序开发阶段多走弯路,提高测试程序开发效率,有效的进行测试生产,使之快速投放市场。本文主要以DPF(Digital Photo Frame)芯片为例,介绍了新产品测试方案的制定,测试程序的开发及其优化的全过程。对于新的功能模块,结合既定的自动测试设备,对测试方法和测试实现进行了详细的研究和设计,使开发出来的测试程序能够更有效测试产品并具有一定的独创性。在测试程序开发完成投入量产测试后,依据生产取得的大量数据对测试程序进行优化,从而更有效的进行测试生产,节省测试成本。在实际应用方面希望通过本文可以对混合信号产品的测试开发提供一定的帮助。本文设计、开发的测试方法及测试程序已成功地应用于生产实践中,并已经取得令人满意的效果。