机内测试,简称BIT(Built-In-Test),是提高电路系统可测试性进而提高系统工作可靠性减少系统维护费用的关键技术。它通过附加在系统内的软件和硬件对系统进行故障检测。当今世界形势和现代战争特点决定了武器装备不但要求具有先进的战术性能,而且要求具有良好的测试性。随着对武器装备测试性要求的提高,迫切需要武器装备本身具备检测能力,以缩短维修时间,因此BIT技术在测试性研究当中占据了越来越重要的地位,成为测试性领域的重要研究内容。本文以某激光制导炸弹的弹载计算机系统为研究对象,将弹载计算机系统划分成核心处理器单元、总线设备接口单元和信号设备接口单元三个模块,对各个模块的电路部分进行了详细的分析,使用环绕BIT技术对系统的输入输出接口RS-422接口、A/D和D/A接口进行了BIT设计,并通过软硬件予以实现。为了进一步增强弹载计算机系统测试的便捷性,本文还设计了两个基于射频芯片CC2430的无线模块,分别与弹载计算机系统和上位机通过串口相连,使得弹载计算机系统自测试后得到的结果通过无线通信的方式发送到上位机,予以显示。经验证,本文所设计的具有BIT功能的弹载计算机系统能够识别RS-422接口及A/D和D/A接口故障,并能够识别同时发生的多个故障,使得系统测试变得简单、快速、准确。本设计具有通用性,对其它弹载、机载计算机系统的BIT设计具有一定的指导意义。