自微芯片之父Roland Moreno于1974年3月申请了智能卡的专利以来,智能卡现已广泛应用到医疗、交通、金融、电信、社保、石油等各个行业中。智能卡的出现与发展给人类的生活方式带来了巨大的变革,并迅速成为当前社会不可或缺的、十分便利的工具。智能卡能否正常使用其核心在于智能卡的芯片操作系统(ChipOperating System),也称COS。COS一般都是紧密结合智能卡存储器分区情况,按照各行业的国际标准或者应用规范来进行设计和开发的,它的主要功能是控制智能卡和外界的信息交换,管理智能卡内的存储器并在卡内部完成各种命令处理。　　 目前,智能卡行业竞争十分激烈,产品上市时间的早晚将很大幅度决定企业的利润,出于开发周期的压力,使得处于软件生命周期后面的软件测试的时间会被压缩,这将会COS在没有得到充分测试的情况下就投入市场,然而智能卡的生产又大多是大规模的,一旦上市,将会销往全国各地,若此时才发现软件上的缺陷,不可能用任何召回活动来替换已发行的大量的卡,因此必须对COS进行高质量且高效率的测试。　　 本文在现有软件测试的理论基础上,结合COS自身特点,基于效率与质量,对COS的测试模型以及测试方法进行了全面的研究。文章首先介绍了智能卡的分类,智能卡开发所需要遵循的国际标准体系,并简单讲述了智能卡COS的基本功能、系统结构；随后介绍了现有的软件测试理论,并在此基础上对COS的主要测试内容进行了归纳总结,提出了COS的测试模型；对各项测试内容的测试用例设计进行了详细的说明,以提高测试质量；引入自动化测试技术以提高COS测试的效率；接着将文中提出的测试方法应用到EVDO卡COS测试过程中,证明了模型和方法的可行性。论文最后阐述了课题涉及创新点和取得的成果。