随着科技的进步,电子产品朝着集成化、系统化、智能化的方向发展,致使电子产品的设计复杂度急剧增加,发生设计缺陷的风险也在不断提高。目前学术界关于电子产品设计缺陷的研究成果还不多,已有的成果主要是关于具体产品的缺陷识别方法和识别工具的研究或者从过程管理、质量管理的角度进行探讨,而对项目开发过程中的设计缺陷严重程度评估、缺陷分布概率计算、缺陷影响因素检验等的研究还处于起步阶段。本文从设计缺陷形成机理、设计缺陷及其影响因素的分类与识别出发,使用粗糙集、贝叶斯网络等理论工具对这些问题进行研究。本文首先从过程管理和影响因素动态变化等角度对电子产品设计缺陷的形成机理进行分析,然后从不同的思考角度出发,论述了设计缺陷的分类方法,并对设计缺陷影响因素、缺陷定位和缺陷识别方法等进行了分析和总结。文中将设计缺陷的检验研究与缺陷跟踪系统联系起来,以前面的分析为基础设计缺陷跟踪记录,应用于企业的设计缺陷管理。本文以粗糙集、贝叶斯网络为基础,提出了一套设计缺陷检验方法。方法首先从缺陷跟踪系统中提取己完成项目的缺陷跟踪记录作为样本数据,经粗糙集决策表进行属性约简后,构建贝叶斯网络推理模型。然后,根据当前同类项目的需要对贝叶斯网络推理模型的结构和参数进行调整,以提高推理精度。最后,应用贝叶斯网络推理模型对当前同类项目进行设计缺陷严重度评估、缺陷分布概率计算和缺陷诊断。文末将设计缺陷检验方法应用到电压监测系统的开发中,以验证方法的可行性和有效性。