氧化锌基薄膜晶体管的制备与性能研究

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目前显示器件的主要发展方向是智能化、平板化、节能化。以薄膜晶体管(TFT)为开关元件的有源阵列驱动显示器是众多平板显示器的佼佼者。相对于非晶硅、多晶硅和有机薄膜晶体管,氧化物半导体晶体管以其低制备温度、高迁移率、对可见光透明和环境友好等特点,愈来愈受到研究人员的关注,被认为是下一代主流显示器的主要候选之一。本论文就氧化锌基薄膜晶体管进行了研究,具体研究内容和研究结果如下:1、充分调研了课题氧化锌基薄膜晶体管,通过大量的阅读相关文献,了解国内外相关机构对该课题研究的现状,并总结了该课题中目前存在的部分问题,掌握相应的解决方案。2、采用溶胶凝胶法(Sol-Gel)在N型重掺杂硅基底制备了锂掺杂氧化锌薄膜。以锂掺杂氧化锌薄膜为沟道层,制备了底栅结构的薄膜晶体管。XRD实验结果表明,500℃退火得到的锂掺杂氧化锌薄膜为纤锌矿结构,具有c轴择优取向。SEM实验结果说明,薄膜晶粒大小约为25nm,尺度分布均匀。电学测试结果显示器件是N沟道增强型。晶体管具有较好的饱和性,=12时,源漏饱和电流约为4μA。3、采用溶胶凝胶法(Sol-Gel)在N型重掺杂硅基底制备了氧化锌锡薄膜。以氧化锌锡薄膜为沟道层,制备了底栅结构的薄膜晶体管。XRD和SEM实验结果表明,氧化锌锡薄膜为非晶态结构。4、采用脉冲激光沉积法(PLD)在N型重掺杂硅基底和Pt基底依次制备BNT或HfO2、ZAO薄膜。以ZAO薄膜为沟道层,以BNT或HfO2与SiO2为组合栅介质制备了底栅结构的薄膜晶体管。XRD和SEM实验结果表明,ZAO为晶态,其表面平整,没有裂纹、孔洞等缺陷。电学性能表明,以HfO2/SiO2为组合栅介质的ZAO-TFT的源漏饱和电流约为SiO2为栅介质的ZAO-TFT的30倍。
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