钻探是地质普查工作的重要方法,是发现和验证隐伏矿(化)体的经济、直接的手段。有些矿种(如铀矿)已大面积地开展带钻普查。传统的获得钻探结果,只有一种表示方法,即岩芯样化学分析。其工作流程为:由钻孔提取岩芯、劈芯取样、碎样缩分、化学分析。X射线荧光测井,即是将X射线荧光仪的探头置于钻孔或炮眼深处原位测定目标元素的含量或品位。常规的室内X射线荧光分析和地面现场X射线荧光分析,其被测对象都是干燥的粉末样品,或者是含有一定水分(一般小于10%)的土壤或岩石,且置于空气或真空环境中测量。由于X射线的透射深度有限,井液的存在不论对初级X射线还是次级X射线都产生吸收与散射。理论计算表明,15mm厚的水层可完全吸收10%铜含量的Cu的K系特征射线。虽然测井探管配有探头部分贴壁装置,但在X射线荧光测井工作中,井孔孔壁的局部变化是未知的,探测窗一侧与井壁是否在各测量点处于紧密接触状态也是未知的,探头和被测井壁之间仍会充有一层井液。在探头紧密贴井壁的前提下,进一步校正间距小于3毫米厚层井液对X荧光测井结果的影响。研究填充的井液的厚度变化对X射线荧光测量的影响并提出有效的校正技术,是保证原位X射线荧光测井分析精度、准确度的关键技术之一。本论文课题来源于:中国地质调查局地质调查项目:“X射线荧光测井技术研究”(项目编号:1212010706501)。论文从实用角度出发,通过理论分析与公式推导,并结合大量实验数据的比对。对X射线荧光测井测得谱线中信息进行提取与演算,实现对由井液引入的影响进行校正。论文取得了如下研究成果:(1)利用傅里叶本底扣除方法及高斯拟合求全能峰法预处理测得谱线数据,为井液校正提供了目标元素净峰面积计数数据。(2)理论研究与实验分析,结果表明:随着井液厚度增大,激发源散射峰的计数逐渐增加并逼近于一定值;目标元素特征峰的计数成指数规律减弱。(3)研究了探管与被测井壁间填充多种井液情况下,在探管与被测井壁间间距变化时,由于受一次以及多次散射射线增加的影响,探管铍窗中所含杂质被激发出的特征射线的照射量率随井液厚度增加也逐渐增加并逼近于一定值。(4)通过对以上规律的分析研究与实验验证,提出一种新的通过提取测得谱线中的信息进行井液影响校正的方法。经过实验验证:在经过井液厚度校正等一些列校正后,测井设备可以在充有井液以及对X射线荧光元素分析设备结构进行改变后,仍可实现较高以及高品位矿井中原位经行准确的元素分析。井液在0-3mm内变化时,对1%铜含量铜矿层产生的CuKa系特征射线峰面积相对变化小于10%。经模拟井壁样品检测表明,对Fe、Cu、Zn、Pb模拟井壁模型,除个别模型外,相对误差均在10%左右。