本文旨在研究高压均质技术在壳聚糖降解中的应用，为利用物理方法制备低分子量壳聚糖提供参考。本文主要采用了高压均质降解和高压均质-过氧化氢（H₂O₂）联合降解两种方法来降解壳聚糖，考察了浓度、压力、温度等因素对降解效果的影响，讨论了降解产物性能及结构的变化，主要研究内容及结果如下：（1）采用高压均质降解壳聚糖，其降解效果随原料分子量的增大而提高，随壳聚糖溶液浓度的增大而降低，随均质压力的增大而提高，随循环次数的增加而提高，不随乙酸（HAc）溶液浓度、乙酸钠（NaAc）溶液浓度及温度发生变化。此外，初步建立了高压均质降解壳聚糖的理论模型，并探讨了高压均质机的作用机理。（2）采用高压均质-H₂O₂联合降解壳聚糖，其降解效果随H₂O₂溶液浓度的增大而提高，随壳聚糖溶液浓度的增大而降低，随HAc溶液浓度的增大先升高后降低，随均质压力和温度的升高而提高，随循环次数的增加而提高。（3）高压均质降解和高压均质-H₂O₂联合降解都没有破坏壳聚糖的基本官能团和结构单元，绝大部分的断链位置都位于β-（1，4）糖苷键上。（4）高压均质-H₂O₂联合降解壳聚糖的效果优于高压均质降解或H₂O₂氧化降解，高压均质技术在保持自身对壳聚糖机械剪切断链作用的同时，还促进了H₂O₂对壳聚糖的氧化降解。