PDP用的荧光粉引起了越来越多学者的重视，晶体中掺杂稀土离子的相关研究已成为人们研究的热点。由于硅酸盐基质具有较高的化学稳定性和较好的结晶性，是一类性能优良基质材料。本文采用高温固相法研究制备了稀土离子掺杂的M<,2>SiO<,4>碱土金属系列硅酸盐荧光粉，并对其结构特性及发光性能进行了研究。 M<,2>SiO<,4>：RE(M=Mg，Sr，Ba，RE=Tm<3+>，Tb<3+>)的X射线粉末衍射数据与JCPDS标准卡片(87-0061，39-1256，26-1403)符合得很好。稀土激活离子的掺入没有引起基质结构的明显变化，表明我们合成的材料是碱土金属正硅酸盐，属于M<,2>SiO<,4>型化合物，属于正交型晶系。 监测457nm时，M<,2>SiO<,4>(M=Mg，Sr，Ba)：Tm<3+>的真空紫外激发谱中，存在两个位于170nm，190nm附近的激发峰和一个位于211nm-300nm附近的激发带。前者主要是硅酸盐基质的吸收，并且按照离子半径Mg<2+>的顺序，硅酸盐基质的吸收随着离子半径的增加向短波方向移动；后者是由于Tm<3+>与近邻的O<2->发生电荷迁移而产生的，随着离子半径的增加逐渐减弱。在161nm真空紫外激发下的主要发射峰分别位于357nm，459nm，478nm附近，分别对应于Tm<3+>的<1>D<,2>→<3>H<,6>、<1>D<,2>→<3>H<,4>、<1>G<,4>→<3>H<,6>能级的跃迁，并且随着碱土离子的不同，相对应<1>D<,2>→<3>H<,6>、<1>D<,2>→<3>H<,4>、<1>G<,4>→<3>H<,6>能级的跃迁发射峰的强度也发生变化。 监测545nm时，Ba<,2>SiO<,4>：Tb<3+>的真空紫外激发光谱包括两个宽的谱带，峰值分别位于186nm和238nm。前者属于基质晶体的吸收，而后者则是Tb<3+>-O<2->之间的电荷转移态。在161nm真空紫外光激发下，Tb<3+>离子的发射峰主要位于486 nm，545nm，589 nm和623 nm，分别对应于<5>D<,4>→<7>F<,J>(J=6，5，4，3)，其中以<5>D<,4>→<7>F<,5>(545nm)绿光发射为最强。 从Ba<,2-x>Sr<,x>SiO<,4>：Tb<3+>XRD衍射谱中可以看出，当X=0时，Ba<,2>SiO<,4>的XRD衍射谱与JCPDS卡片26-1403符合的较好，随着Sr<2+>掺杂比例的增加，Ba<,2>SiO<,4>的衍射峰逐渐减弱，Sr<,2>SiO<,4>的衍射峰逐渐增强。 监测545nm时，Ba<,2-x>Sr<,x>SiO<,4>：Tb<3+>真空紫外激发光谱，位于186nm和238nm附近的吸收峰强度随着x的增大减弱，基质吸收能向低能方向移动。样品Ba<,2-x>Sr<,x>SiO<,4>：Tb<3+>在161 nm激发下的发射光谱主要由峰值位于491nm，545nm，589nm，624nm的四个峰组成，分别对应Tb<3+>的<5>D<,4>-<7>F<,J>(J=6，5，4，3)跃迁发射，545 nm的发射最强。激活离子相同基质不同，发射的强度也不同，但并未随着Ba/Sr的比率的增加发生规律性变化， Ba<,0.4>Sr<,1.6>SiO<,4>：Tb<3+>的发光强度最大。