随着高性能嵌入式技术迅猛发展,嵌入式产品的研发企业已不满足对传统的嵌入式调试系统平台所提供的研发环境,为此提出了各种新的技术需求和发展方向,其中,自动化测试技术的引入与研究,成为了新一代嵌入式调试系统平台的其中一个重要发展方向。论文旨在设计一种具有硬件自动识别和测试功能的嵌入式测试平台,该平台能自动对接入的包括嵌入式处理器在内的硬件进行识别,并对接入的硬件作出故障测试。论文深入分析了嵌入式测试系统的技术特点和国内外研究的现状,总结对比各类文献关于嵌入式硬件测试的技术方法后,指出了目前嵌入式测试平台所存在的测试自动化程度不足、硬件测试兼容性较低的问题,并针对问题给出了建立硬件识别系统、硬件测试系统以及上位机控制系统的解决方法。论文在总体设计阶段,通过对嵌入式测试系统需求分析和技术研究,设计了嵌入式自动测试系统的框架模型。通过分析国外成熟的硬件测试平台技术,设计了嵌入式测试平台的硬件结构,并确立了主要的研究内容为硬件识别系统。接下来论文研究了一种使用独立控制器的硬件识别系统,探讨了测试平台对硬件识别的要求和实现硬件自动识别的关键技术,提出了一种嵌入式硬件识别系统,并对其技术方案并进行了研究,包括电路框架、扫描及反馈策略、识别逻辑流程、识别控制指令、硬件ID编码。同时以识别控制器为核心,构建了硬件识别系统的电路,并为电路进行了逻辑仿真,验证了硬件识别系统的有效性。