伴随 5G(The 5th Generation mobile communication technology)通信技术的高速发展,各类型的多输入多输出(MIMO,Multi Input Multi Output)阵列天线的研发设计,指标性能认证以及到最后实际量产,以及各个环节都离不开射频测试技术作为保障。作为新一代的系统测试技术,相较于传统的室内多探头球面近场和室内紧缩场等测试系统,平面波产生器的占地空间和制作成本都有着很大优势,测试的精准度完全取决于综合平面波的质量,因此对于综合平面波的质量的算法优化即是本文的重点。本文从平面波综合的相关理论着手,详细的介绍了基于奇异值分解的最小二乘法,以及非均匀阵列优化算法所利用的遗传算法基础。从一维和二维两个方面着手建立模型,采用均匀排列的理想电流丝作为阵列阵元,利用最小二乘法进行平面波综合,通过计算机仿真模拟生成的综合平面波进行幅相分析,结合阵元个数的改变和采样面距离的大小,探究与综合平面波质量的一般关系。其次将半波阵子组合的天线阵作为待测天线,模拟综合平面波在实际测量中对天线扫描测试的能力。传统的平面波综合主要针对均匀阵列的阵元激励采用不同的算法进行寻优,但基本优化效果有限且复现相对困难。本文提出基于稀疏和稀布优化的非均匀阵列算法是将阵列阵元的位置进行改变,并结合最小二乘法对综合平面波进行计算寻优,将相同阵元数的均匀分布阵列和非均匀分布阵列所综合的平面波质量进行比较。相比相同阵元数传统均匀排列所综合的平面波质量有着明显优化,主要在Sub-6G频段的中心频率3GHz的基础上针对静区尺寸为1m的均匀阵列进行位置优化,有效减小阵列尺寸的30%以上且静区的幅相波动减小50%。对实际平面波产生器的制作有着更好的导向作用。