脉冲加热红外热成像无损检测技术的机理研究

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脉冲加热红外热成像无损检测技术是八十年代初发展起来的一种非接触式无损检测方法,是集光、机、电子于一体的实用化高新科学技术,国外对该技术的十几年的历史,国内尚属首次研究.该文在已有研究工作的基础上,对PHIT无损检测机理做了进一步的研究工作,得出了一些新的研究成果.研究了实验室现有的PHIT无损检测系统中脉冲加热源的特性,得出了时间特性和空间特性,指出了影响时间特性和空间特性的主要因素,这为日后系统特性改善提供了可靠的实验数据.在研究试件内部传导的热流问题时,由于边界条件复杂,研究很难求得三维热传导方程的解析解,为此研究人员采用了计算机模拟的方法来求解.三维模型解的求出使研究人员能深入的研究热流在试件内部的传播情况.在影响热流传播的诸多主要因素中,研究了缺陷深度、缺陷大小、试件厚度、试件大小、环境温度、脉冲加热功率以及不同材料对热流的影响,得出的结果与实验情况相符.在讨论检测能力时,引入了最佳理论检测灵敏度的概念,讨论了影响最佳理论检测灵敏度的几个因素.缺陷面积是检测者们普遍关心的问题.为了减小误差,研究人员对缺陷原始图像进行了图像处理,之后确定缺陷的面积.对于不同材料,对处理后的缺陷原始图像进行了图像处理,之后确定缺陷的面积.对于不同材料,对处理后图像做定量检测,发现在可检测的范围内,面积检测误差在10﹪以内,较好地符合了检测的要求.
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